브루커코리아(주)에서 제공한 BRUKER의 X-ray Fluorescence Spectrometry'의 제품 특징, 제품 사양 그리고 제품 구성은 다음과 같다.
XRF(X-ray Fluorescence)는 시료에 X선을 조사하여 원소가 방출하는 형광 X선을 측정해 원소 조성 및 함량을 분석하는 비파괴 분석기술이다. 시료 전처리가 간단하고 고체·액체·분말 등 다양한 형태의 시료를 빠르게 정량·정성 분석할 수 있다. 응용 분야로는 금속·광물 분석, 환경시료(퇴적물·토양) 평가, 시멘트·세라믹 공정관리, RoHS 규제 분석 및 박막 분석 등이 있다.
제품 특징
타사와 차별되는 새로운 기술의 도입:
1. 특허 기술인 SensorBoost™는 PHA 데이터를 분해하여 관련 세기를 추출하고, 고차 아티팩트 및 중첩 신호를 제거하며, 배경 잡음의 감소를 제공.
2. 새로운 SDD인 HighSense XE™을 통해 최대 23 Mcps의 계수율에서도 0.9996의 우수한 선형성을 유지하여 고카운트 조건에서도 정확한 정량
분석 성능을 제공.
3. Camera AI를 활용한 효율적인 샘플 인식 기능과 LabScape™을 이용한
클라우드 기반 서비스와 AR 지원 도구를 활용해 시스템의 가동 시간 최적화를 제공.
제품 사양
•X-선 발생장치(End-window type: Rh)
- 최대 출력: 4 kW (전압 범위 : 20 – 60 kV, 전류 범위 10 – 170 mA)
- 출력 안정성: 1 % 변화에 대해 ±0.00005 % 또는 이하
•광학계
- 분석 원소 범위: 4 Be(베릴륨)부터 92 U(우라늄)
- 측정 분위기: 진공 / 헬륨
- 빔 필터: 10개
- 콜리메이터 마스크: 5 mm, 8 mm, 18 mm, 23 mm, 28 mm, 34 mm
- 콜리메이터 마스크 교환기: 4개
- 크리스탈(XS Crystals) 교환기: 8개
•샘플 로더
- XY 겐츄리 로봇(Gantry Robot) 방식
- 최대 84개 이상의 시료 장착 가능
•검출기
- 가스 비례 검출기(FC): 14 ° - 149 ° (2θ)
- 실리콘 드리프트 검출기 (SDD): 4 ° - 118 ° (2θ)
- 신틸레이션 계수기(SC): 4 ° - 118 ° (2θ)
- 단일 원소 검출기(SEC): B Ka, C Ka, Na Ka, Mg Ka, Al Ka, Si Ka
제품 구성
•본체 및 옵션(샘플 전도도 측정, DataGuard 소프트웨어)
'X-ray Fluorescence Spectrometry'에 대한 상세한 내용은 브루커코리아(주)를 통하여 확인 가능하다.
Reference(참고자료)
S8 TIGER Series 3 제품 페이지(QR 연결)
Maker(제조사): BRUKER
Country of Origin(원산지): Germany
Data Services(자료제공): 브루커코리아(주)
<이 기사는 사이언스21 매거진 2026년 7월호에 게재 되었습니다.>
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