• FIB-SEM
  • DB550
  • (주)지에스이엠에서 제공한 CQT의 'FIB―SEM'의 사용 분야, 제품 특징, 제품 사양 그리고 제품 구성은 다음과 같다.

    듀얼빔 시스템은 집속 이온빔(FIB)과 전자빔(SEM)을 결합한 시스템으로, Ga-FIB를 이용해 재료의 나노 가공을 수행하고, SEM을 통해 실시간 관찰을 한다.

    사용 분야
    1) 반도체 & 전자 부품, 2) 시료 단면 제작 및 TEM 준비, 3) 재료 과학, 4) 배터리, 5) 철강, 6) 화학

    제품 특징
    •DB550은 나노 분석 및 시료 준비를 위한 FIB(Focused Ion Beam) 컬럼을 적용한 FE-SEM(Field Emission SEM)으로 ‘Super Tunnel’ 전자광학 기술과 무자성 대물렌즈 설계가 적용되어 나노규모의 분석능력을 보장하는 저전압 및 고해상도 FIB이다.
    •이온 컬럼은 Ga+ 액체 금속 이온원을 적용해 고도로 안정적이고 균일한 고품질 이온 빔을 제공하며, 이를 통해 나노 스케일 시료 제작을 정밀하고 용이하게 수행할 수 있다.
    •DB550은 Nano manipulator, 가스주입시스템(GIS), 대물렌즈용 전기 오염 방지 메커니즘 등 24개의 확장 포트 제공이 가능하며, 종합적인 구성과 확장성을 갖춘 만능 나노 분석 및 제작 플랫폼이다.

    제품 사양
    <Electron beam system>
    - Electron gun: High brightness schottky FEG
    - Resolution: 0.9nm@15KV
    - Acc. voltage: 20V-30KV
    <Ion beam system>
    - Ion source: Gallium Ion Beam
    - Resolution: 3nm@30KV
    - Acc. voltage: 500V-30KV

    제품 구성
    •Electron Column / Ion Column / Gas Injection System / Nano-manipulator / Airlock / Knob control panel & trackball / Operation software & Workstation

    'FIB―SEM'에 대한 상세한 내용은 (주)지에스이엠을 통하여 확인 가능하다.

    Reference(참고자료)  
    DB550 카다로그

    Maker(제조사): CQT 
    Country of Origin(원산지): China
    Data Services(자료제공): (주)지에스이엠

    <이 기사는 사이언스21 매거진 2026년 8월호에 게재 되었습니다.>
  • 글쓴날 : [26-08-07 13:16]
    • 최진민 기자[reporter2@s21.co.kr]
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